納米粒度儀的工作原理是利用動態(tài)光散射法(DLS)，有時稱為準彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布，粒度可小于1nm。動態(tài)光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。
 

　　影響納米粒度儀測試結(jié)果的因素有哪些？
 

　　(1)復折射率
 

　　激光散射法粒度測量的對象一般是微米級的粒子，這些粒子的光學常數(shù)并不能簡單看成粒子材料的光學性質(zhì)，而是指顆粒的復折射率n’，其定義為：n‘=n+ik。其中n為通常所說的折射率，虛部k表示光在介質(zhì)中傳播時光強衰減的快慢，即吸收系數(shù)，有時也被稱作吸收率。
 

　　復折射率的選擇合適與否直接影響到粒度檢測結(jié)果的準確性與可靠性，但是影響待測顆粒復折射率的因素較多，難以確定其準確值，所以到目前為止在激光粒度測量領域中仍舊沒有確定復折射率的統(tǒng)一方法。在實際的粒度檢測過程中，一般只是對同種物質(zhì)使用一個固定的復折射率，這樣的測量結(jié)果必然會與樣品的真實值有較大偏差。但是如果針對不同粒度區(qū)間的顆粒都去尋找其復折射率，卻又不現(xiàn)實的。
 

　　(2)折射率
 

　　Mie散射理論是麥克斯韋電磁方程組的嚴格解，激光法檢測的前提假設是粉體粒子是球形且各向同性的，大多數(shù)晶體在不同的方向上有不同的折射率。由于不同廠家的設備中光能探測器的數(shù)量、空間分布位置、靈敏度的不同也會導致檢測結(jié)果的差異。
 

　　(3)內(nèi)置算法
 

　　由于光強分布的差異，不同粒度儀生產(chǎn)廠家所采用的軟件內(nèi)置算法不同，造成系數(shù)矩陣的計算結(jié)果差異，由此給反演帶來不同程度的誤差。